時間：2025/9/10-9/12

地點：臺北南港展覽館一館一樓, 中國臺灣

Enlitech展位：I2507

Enlitech將出席 2025 Semicon Taiwan 國際半導體展

Enlitech將于 2025 年 9 月 10–12 日 出席在 臺北南港展覽館 舉辦的 2025 Semicon Taiwan 國際半導體展。

作為亞洲備受矚目的半導體產(chǎn)業(yè)盛會，Semicon Taiwan 聚焦于芯片制程、材料創(chuàng)新、先進封裝、光電傳感與應用，吸引全球芯片制造商、研究機構(gòu)與產(chǎn)業(yè)專家共同參與。

Enlitech展示最新半導體光學檢測解決方案

秉持“Optical Testing — The Standard for High-Speed Chips 光學測試，為高速芯片定義真實性能"的核心理念，光焱科技 (Enlitech) 專注于開發(fā)先進的半導體光學測試設(shè)備，協(xié)助研究人員與工程師精準掌握 高速芯片與光電傳感器 的性能。

在本次展會，Enlitech將分享以下設(shè)備：

• SPD2200：商用級 SPAD 單光子雪崩二極管效率整合型測試儀
  
  
  

• APD-QE：先進光傳感器量子效率光學測試儀
  
  

• SG-A：CMOS 圖像傳感器測試儀
  
  

這些檢測解決方案廣泛應用于高速芯片、光子學、光電傳感器 的效能驗證與突破研究。

誠摯邀請您參觀Enlitech展位 I2507

在 2025 Semicon Taiwan，光焱科技 (Enlitech) 將由專業(yè)團隊于現(xiàn)場提供技術(shù)解說，協(xié)助您深入了解光學測試在半導體與光電領(lǐng)域的應用價值。

我們誠摯邀請您蒞臨 I2507 展位，與我們交流半導體光學檢測的未來！